Xian Shilin, obtuvo el títuo de grado, el títuo de máster y el títuo de doctorado de la Universidad de Correos y Telecomunicaciones de Chongqing, de la Universidad de Ciencia y Tecnología Electrónica de China y de la Universidad de Sichuan en 2017, 2020 y 2023, respectivamente. Su interés en la investigación se centra principalmente en el campo de la nanofotónica, especialmente en aplicaciones como la detección e imagen de polarización y los metamateriales quirales.